Microscopio de fuerzas atómicas

• Microscopía de fuerzas atómicas en contacto con sensor de fuerza lateral.
• Modos sin contacto con medida de amplitud y fase.
• Microscopía de fuerzas magnéticas.
• Microscopía de fuerzas eléctricas
• Medida de potenciales de superficie.
• Microscopía de modulación de fuerza
• Sistema de nanoindentación Hysitron con fuerza vertical y lateral.
• Capacidad de realizar medidas en inmersión
• Medidas electroquímicas

Nanoindentador

• Sistema óptico de captación de imágenes.
• Nanorayado.
• Capacidad realizar medidas dinámicas